
【国内论文】浙江大学杨德仁院士领导的研究团队---优化器件结构以增强发光研究
日期:2025-03-24阅读:81
近期由浙江大学杨德仁院士领导的研究团队在学术期刊 ACS Applied Electronic Materials 发布了一篇名为 Enhanced Emission in Erbium- and Ytterbium-Doped Gallium Oxide Devices with Constrained Energy Band on Silicon Substrates(硅衬底上能带受限的掺铒和掺镱氧化镓器件的发射增强效应)的文章。
项目支持
该研究得到浙江省重点研究项目(批准号:2024C01054)的支持。
背景
随着半导体技术的发展,传统电互连器件的信号延迟、功耗和信号串扰问题逐渐凸显。硅基光电子学作为替代方案提出,其中光子取代电子进行信息传输。然而,实现电驱动硅基光源仍面临挑战。铒(Er3+)具有窄谱线宽度和位于石英光纤最小损耗窗口的 4f 内跃迁(4I13/2~4I15/2)和 1.54 μm 固定发射波长等优点,成为潜在光源材料。尽管能量转移机制可降低工作电压,但 Er3+ 受激发效率低、发光强度受限。为增强发光,该团队提出在 Ga2O3 中引入镱(Yb3+)掺杂层,提升发光强度。
主要内容

该研究提出了一种硅基掺铒(Er)和掺镱(Yb)的氧化镓发光器件。分析了掺镱中间层对电学和发光性能的影响。发现形成了类似量子阱的能量带,能够将电子限制在有源层内。证实了铒和镱之间存在显著的相互作用效应,包括能量转移和电子转移,这促进了铒发射的激发过程,从而增强了发光。基于厚度比为 1:1 且有三层掺镱中间层的薄膜,该器件可获得约 5.0 μW/cm2 的最大光功率密度,这几乎是无掺杂镱中间层器件的 60 倍。此外,还能检测到铒内的反转粒子数,为实现硅基电驱动激光器奠定基础。
总结
在该项工作中,研究了掺镱(Yb3+)中间层对硅基 Ga2O3:Er 发光二极管(LED)电学和发光性能的影响,并提出了一种利用发射层内电子的限制以及稀土离子协同效应的 LED。通过测量能级位置,发现不同掺杂层之间的界面形成了 I 型异质结,并且形成了类似量子阱的能带结构,能够将电子限制在 Ga2O3:Er 层内。由于引入了稀土离子,硅与 Ga2O3 层之间的界面存在正固定电荷,这会导致能带弯曲,从而改变导电性能。Er 和 Yb 掺杂层之间的界面将有助于 TAT 导电机制。对于发光性能,发现当 Yb3+ 参与时,Er3+ 的发光强度会增强,这是由于受限的能带结构以及 Er3+ 和 Yb3+ 之间的相互作用。最大光功率密度达到约 5.0 μW/cm2,比不含 Yb3+ 的器件提高了 60 多倍。通过 TREL,证实了 Yb3+ 能够将辐射能传递给附近的 Er3+,并且在离子数量平衡且转移距离适宜的情况下,效率可提升至 14.8%。在优化后的器件中,还验证了 Yb3+ 到 Er3+ 的有效电子转移。能量和电子转移都能促进 Er3+ 发射的激发过程,在 Er3+ 中实现粒子数反转,这对于硅基电驱动激光器来说是至关重要的。

图 1:(a) 基于不同浓度 Ga2O3:Yb 薄膜的 LED 在 900-1100 nm 波长下的 EL 光谱。(b) Ga2O3:Er 和 Ga2O3:Yb 层的厚度比从 2:1 到 1:2,以及 (c) 在保持厚度比 1:1 不变的情况下,掺杂层数从两层到四层。

图 2. (a) Ga2O3:Er 和 Ga2O3:Yb 薄膜以及 Ga2O3:Er 和 Ga2O3:Yb 层厚度比从 2:1 到 1:2 不同的薄膜的 (αhv)2 与 hv 的关系曲线,插图为带隙与总稀土 (RE) 浓度的关系曲线。Ga2O3:Er 和 Ga2O3:Yb 薄膜的 XPS(b)VB 光谱和(c)宽扫描光谱,(c)插图为 O 1s 光谱。(d) Ga2O3:Er 和 Ga2O3:Yb 薄膜的 UPS 光谱。
DOI:
doi.org/10.1021/acsaelm.4c02249