【外延论文】利用光电导技术研究氧化镓中的载流子传输和电子缺陷

        近期，由英国邓迪大学的研究团队在学术期刊 Journal of Physics: Conference Series 发布了一篇名为 Carrier transport and electronic defects in gallium oxide studied by photoconductivity techniques（利用光电导技术研究氧化镓中的载流子传输和电子缺陷）的文章。

摘要

        本文应用两种互补的局部态密度光谱技术，调制光电导（MPC）和恒定光电流法（CPM），对 Ga₂O₃ 薄膜进行了研究。结果表明，这两种技术分别对费米能级上下的载流子陷阱具有敏感性。与传统技术相比，这些技术无需施加肖特基或 p-n 结，可以直接测量薄膜，这在研究高电阻或半绝缘材料时可能具有优势。通过高分辨率 MPC 分析，进一步展示了其优越性。

原文链接：

https://doi.org/10.1088/1742-6596/2952/1/012001