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【外延论文】块状 β-Ga₂O₃ 的抗辐射性和缺陷演化:分子动力学研究
日期:2025-04-03阅读:76
由武汉大学的研究团队在学术期刊 Journal of Physics D: Applied Physics 发布了一篇名为 Radiation Resistance and Defect Evolution in bulk β-Ga2O3: A Molecular Dynamics Study(块状 β-Ga2O3 的抗辐射性和缺陷演化: 分子动力学研究)的文章。
摘要
凭借宽带隙和强离子键特性,β-Ga2O3 在极端辐射环境中表现出优异的稳定性。为研究其抗辐射性能及微观结构演变,研究人员采用分子动力学(MD)模拟,系统探讨了不同初级撞击原子(PKA)能量(1.5、3.0、5.0 和 7.0 keV)以及不同温度(173、300 和 800 K)条件下,[010] 方向上辐射诱导缺陷在块体 β-Ga2O3 中的影响。结果表明,Frenkel 对(FPs)的生成量与 PKA 能量呈线性增长关系,并计算了 Ga 和 O 的阈值位移能量(TDE)。尽管温度升高略微提高了缺陷复合率,但同时也导致了辐射级联碰撞过程中缺陷数量的增加。这是由于升高的温度影响了受激原子的运动轨迹,促使小型亚级联簇形成分支结构。这些分支会导致局部能量沉积增加,形成损伤区域,并最终在辐照后产生更多缺陷。此外,当能量超过 1.5 keV 时,亚级联簇开始分裂,表明了能量-温度耦合机制的存在。研究对于提高 β-Ga2O3 基器件的抗位移损伤能力具有重要意义,并为 β-Ga2O3 及相关材料的后续实验测试和分析提供了理论基础。
原文链接:
https://doi.org/10.1088/1361-6463/adbbfe