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【国内论文】中科院半导体所团队利用 MOCVD 技术在 c 平面蓝宝石上两阶段生长β-Ga₂O₃,用于日盲式光电探测器

日期:2023-12-26阅读:264

        近期,由中国科学院半导体研究所的研究团队在科学期刊《Journal of Semiconductors》中发表了一篇名为Two-step growth of β-Ga2O3 on c-plane sapphire using MOCVD for solar-blind photodetector(利用 MOCVD 技术在 c 平面蓝宝石上两阶段生长β-Ga2O3,用于日盲式光电探测器)的文章。

摘要

        本研究采用两阶段金属有机化学气相沉积(MOCVD)方法在 c 平面蓝宝石上生长了 β-Ga2O3 薄膜。最佳缓冲层生长温度(TB)为 700 °C,β-Ga2O3 薄膜的半高宽(FWHM)为 0.66°。基于这种 β-Ga2O3 薄膜,制备出了一种金属-半导体-金属(MSM)日盲光电探测器(PD)。在 10 V 偏压条件下,该器件获得了 1422 A/W @ 254nm 的超高响应率和 106 的光暗电流比 (PDCR)。2.5 × 1015 Jones的探测率证明了该光电探测器在探测微弱信号方面的卓越性能。此外,该光电探测器还具有出色的波长选择性,抑制比(R250 nm/R400 nm)为 105。这些结果表明,两步法是制备用于高性能日盲光电探测器的高质量 β-Ga2O3薄膜的一种可行方法。

图. 1.(a)不同 TB 下生长的 β-Ga2O3 薄膜的 XRD ω-2θ 扫描和(b)摇摆曲线的 FWHM。小图为薄膜的 XRD ω 扫描图。

图 2:(a) β-Ga2O3 薄膜的原子力显微镜图像和 (b) RMS 粗糙度,(c) 截面扫描电子显微镜获得的薄膜厚度。小图为 TB = 700 °C 时生长的薄膜的横截面图像。

原文链接:http://www.jos.ac.cn/en/article/id/3aa3f6c4-2d6c-4339-8c13-09f43038ae1d?viewType=HTML