
【国际论文】等离子体辅助分子束外延中In介导的金属交换催化作用下κ与β氧化镓及 (InₓGa₁₋ₓ)₂O₃ 的相选择性生长
日期:2024-12-30阅读:204
近期,由德国柏林研究协会的研究团队在学术期刊 APL Materials 发布了一篇名为Phase-selective growth of κ- vs β-Ga2O3 and (InxGa1−x)2O3 by In-mediated metal exchange catalysis in plasma-assisted molecular beam epitaxy(等离子体辅助分子束外延中In介导的金属交换催化作用下 κ 与 β 氧化镓及 (InxGa1−x)2O3 的相选择性生长)的文章。
摘要
其大的本征极化使亚稳态 κ-Ga2O3 多晶型体对多种应用具有吸引力,而 In 掺入 κ 和 β-Ga2O3 允许我们工程化它们的低端带隙。在这项工作中,我们提供了实际指南,以使用等离子体辅助分子束外延 (MEXCAT-MBE) 中的 In 介导金属交换催化,生长单相 κ-、β-Ga2O3 以及它们的 (InxGa1−x)2O3 合金薄膜,分别高达 x = 0.14 和 x = 0.17。研究了衬底温度、氧化能力、生长速率和衬底选择对相形成和 In 掺入的影响。结果表明,无论衬底选择如何,κ 相可以在狭窄的沉积窗口内稳定存在:[(i) α-Al2O3 (0001),(ii) 20 nm 的 (-201) β-Ga2O3 在 α-Al2O3 (0001) 上,(iii) (-201) β-Ga2O3 单晶]。较低的生长速率/金属通量以及高于 700 °C 的生长温度倾向于独立稳定 β 相。较低的生长温度和/或更富氧的沉积气氛允许增加两种多晶型中的 In 掺入量。最后,我们还证明了在至少 100 °C 高于传统非催化 MBE 可实现的温度下,在 α-Al2O3 (0001) 顶部生长 (-201) β-Ga2O3 的可能性,为异质外延中的更好晶体质量开辟了道路。

图 1. 从 MEXCAT-MBE 生长中获得的相图与等离子体功率和基底温度的函数关系;填充符号对应 In > 10% 的样品,半填充符号对应 In = 3% 的样品,开口符号对应 In < 1% 的样品。由于可能存在成核问题,样品 L 用星号表示(详见补充材料)。划分不同阶段的区域只是为了方便观察,而不是硬性界限。β- 和 κ-Ga2O3 单位晶胞的草图是使用 VESTA 绘制的。

图 2. (a) 沉积在 α-Al2O3 (0001) + (-201) β-Ga2O3 成核层上的层的 XRD 2θ-ω 扫描示例;为了更清晰,数据垂直偏移。(b) In 加入 (a) 所示薄膜/层的 SIMS 数据。
DOI:
https://doi.org/10.1063/5.0226050