【其他论文】通过Scherrer、Williamson-Hall、Size-Strain Plot和Halder-Wagner技术得出的 X 射线衍射分析得出的 CVD 合成 Ga₂O₃ 纳米结构的结构参数--比较研究

        近期，由马来西亚理科大学的研究团队在学术期刊 Physica B: Condensed Matter 发布了一篇名为 Structural Parameters of CVD Synthesized Ga₂O₃ Nanostructures from X-ray Diffraction Analysis Derived by Scherrer, Williamson-Hall, Size-Strain Plot and Halder-Wagner Methods- A Comparative Study（通过 Scherrer、Williamson-Hall、Size-Strain Plot和 Halder-Wagner 技术得出的 X 射线衍射分析得出的 CVD 合成 Ga₂O₃ 纳米结构的结构参数--比较研究）的文章。

摘要

        通过氢还原化学气相沉积法在不同衬底角度下合成了氧化镓 (Ga₂O₃) 纳米结构 (NS)。X 射线衍射 (XRD) 研究证实了 NS 的多晶性质，具有单斜结构。在这里，一系列 X 射线峰形分析模型，如 Scherrer 方法、Monshi-Scherrer (M-S) 图、Williamson-Hall (W-H) 图、尺寸应变图 (S-S-P) 和 Halder-Wagner (H-W) 技术，已被用于估计微晶尺寸和晶格应变。详细评估了所有模型的优缺点，并比较了不同模型确定的结构参数。在 X 射线峰形分析方法中，SS-P 方法是最合适的，因为数据点更准确地拟合到该方法，具有最高的平均拟合优度值。还表明，随着衬底角度增加到 67.5°，各向异性应变可能增加并转移到较低角度的晶体学反射。

原文链接：

https://doi.org/10.1016/j.physb.2024.416798