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【会员新闻】《氧化镓单晶位错密度测试方法》、《β相氧化镓同质外延片》团体标准立项评审会顺利召开
日期：2025-01-21阅读：364
2025年1月16日，中国电子材料行业协会半导体材料分会在杭州组织召开了《氧化镓单晶位错密度测试方法》、《β相氧化镓同质外延片》团体标准立项评审会。
本次会议是按照国家有关部门对团体标准的要求和中国电子材料行业协会《CEMIA团体标准管理办法》（试行）的规定，依据协会收到的相关企业团体标准提案情况决定召开的。这次申请立项的团体标准的牵头单位是杭州镓仁半导体有限公司，主要参与及参与单位有中山大学，中国科学技术大学，甬江实验室，西安电子科技大学，浙江大学科创中心等等。评审专家主要有中国电子材料行业协会标准化专家马春喜，南京大学教授叶建东，中国电科13所研究员王元刚，中国电科46所研究员张嵩等等。十一科技、赛迈科、杭州幄肯、星辉新材以及晶驰机电等单位代表参与旁听了本次会议。
本次立项会由中国电子材料行业协会半导体分会秘书长林健主持，林健秘书长首先介绍了与会的评审专家组成员，并由参会人员推举选出马春喜评审组长。
会上，评审专家组听取了《氧化镓单晶位错密度测试方法》、《β相氧化镓同质外延片》团体标准申报单位杭州镓仁半导体有限公司代表对标准提出重要性、必要性、主要内容、国内外发展现状等方面进行的详细汇报，并就有关问题进行了质询和充分讨论，认为拟立项标准所涉及的测试方法和产品属于超宽禁带半导体材料领域，受瓦森纳协议限制。这两项标准的制定符合战略新兴产业发展和行业的迫切需求。标准所涉及的测试方法和产品技术内容基本完整，同意立项，并对后续工作提出来一系列的建设性意见。
随着，与会代表组队参观了浙江大学国际科创中心和硅及先进半导体材料全国重点实验室。促进了我国半导体材料产业产学研的相互融合。
