【会员论文】西安电子科技大学郝跃院士团队丨深度解析:氧化镓RRAM的材料、基础与应用
日期:2026-03-03阅读:14
由西安电子科技大学的研究团队在学术期刊 Advanced Materials Technologies 发布了一篇名为Gallium Oxide RRAM: Materials, Fundamentals and Applications(氧化镓 RRAM:材料、基础与应用)的文章。
背景
随着大数据和人工智能的飞速发展,传统的冯·诺依曼架构(计算与存储分离)面临着严重的存储墙和功耗墙限制。数据在处理器和存储单元之间频繁迁移,消耗了大量能量并限制了运算速度。作为一种新型非易失性存储技术,RRAM 具有结构简单、读写速度快、功耗低、高集成度以及支持存算一体等特点,被视为下一代半导体存储的核心竞争者。氧化镓禁带宽度约为 4.5-4.9 eV,这赋予了器件极高的热稳定性和击穿场强,使其能够在高温、高辐射等极端环境下稳定工作。氧化镓内部易于产生氧空位,而氧空位的形成与迁移是阻变效应的关键。拥有α、β、γ、ε、κ等多种同质异相体,且在可见光至日盲紫外波段具有高透明度,为开发透明电子器件和光电集成系统提供了可能。
主要内容
随着信息技术的迅猛发展,数据存储需求呈指数级增长。当前主流存储技术正逐渐受到物理极限的制约,难以在存储密度和读写速度方面实现进一步提升。同时,冯·诺依曼体系结构中“存储—计算分离”的架构模式也形成了难以突破的“存储墙”瓶颈,频繁的数据搬移显著降低了系统能效。为满足实时数据处理需求以及类脑计算对“存算一体化”的需求,亟需开发具备超高密度、高速度以及存算融合能力的新型存储技术。近年来,阻变随机存取存储器(RRAM)受到广泛关注,成为新一代非易失性存储器中极具竞争力的候选技术之一。氧化镓(Ga2O3)作为一种新兴的超宽禁带半导体材料,凭借其独特的电学与物理特性,已成为 RRAM 材料体系中极具潜力的候选者之一。本文首先介绍了 Ga2O3 的材料特性,其次阐述了 Ga2O3 基 RRAM 的工作原理,并对其性能评估指标及应用方向进行了系统总结。最后,文章对 Ga2O3 RRAM 未来的发展趋势进行了展望,以推动其在高密度存储与类脑计算领域中的应用。
总结
Ga2O3 作为一种宽禁带半导体材料,凭借其优异的电学、光学和化学稳定性,在 RRAM 领域展现出显著的应用前景。本文概述了 Ga2O3 材料的特性,以及 Ga2O3 RRAM 的结构、工作特性和机制,并对 Ga2O3 RRAM 的性能评估和应用进行了总结。要充分发挥 Ga2O3 RRAM 的独特潜力,仍面临重要的机遇与挑战。
(1)电学性能仍需进一步优化:工作电流过高,耐久性不足。具体而言,Ga2O3 RRAM 的复位操作电流相对较高(通常超过 10 µA),导致功耗增加。此外,在循环操作过程中,器件易出现电阻漂移或失效,从而影响长期稳定性。为缓解这些问题,有必要优化电极材料和界面工程以降低工作电流。同时,通过改进阻变层(RS 层)结构,例如引入多层 RS 层或纳米复合材料,可以提升耐久性。
(2)多级存储实现面临挑战:在多级存储操作中,Ga2O3 RRAM 容易出现电阻状态重叠或漂移,导致数据存储错误。设定电压与复位电压之间的显著差异也会影响多级存储的精度。因此,有必要开发新的阻变机制,例如界面型阻变机制,以提高电阻状态的稳定性。此外,还需优化器件结构以平衡设定与复位电压。
(3)热管理与散热问题:Ga2O3 的热导率相对较低(0.27 W/cm·K),在高密度集成条件下可能导致局部过热,从而影响器件性能。这些问题可以通过优化器件结构、引入散热通道或高导热材料,以及开发创新封装技术以提高散热效率来解决。
(4)多功能拓展:除传统的存储与计算应用外,Ga2O3 RRAM 在人工智能和类脑计算等新兴领域也具有重要前景。通过与生物传感器和可穿戴设备等技术结合,有望推动医疗健康和智能穿戴等领域的创新并开辟新的发展方向。由于具备多级非易失存储、逻辑运算、图像处理能力、高可靠性、多功能集成、低功耗和高速等特性,Ga2O3 RRAM 在下一代信息存储与计算领域展现出巨大应用潜力。
随着材料制备和器件制造技术的进一步发展,Ga2O3 RRAM 有望成为未来高性能电子系统的核心组成部分。
项目支持
本工作得到了国家自然科学基金(62304167,52192610,62274127,625B2140,62421005)、国家重点研发计划(2021YFA0715600,2021YFA0717700)、广东省基础与应用基础研究基金(2024B1515120035)、2023 秦创原建设两链融合重大专项(23LLRH0043)、陕西省重点研发计划(2024GX-YBXM-512)的支持。

图1 随时间变化的 Ga2O3 研究论文数量(数据源自Web of Science)。

图2 不同半导体的击穿场强与带隙分布。

图3 通过(a)吸收光谱计算带隙宽度。通过(b)透射光谱计算,以及(c-d)紫外-可见漫反射光谱。

图4 RRAM 结构示意图。

图5 RRAM 电极类型。

图6 (a) 单层 Ga2O3 RRAM结构示意图,(b) 异质 Ga2O3 RRAM结构示意图,以及 (c) 均相 Ga2O3 RRAM 结构。

图7 RRAM 的 I-V 曲线示意图:(a) 含形成工艺。(b) 无形成工艺。

图8 RRAM 的多级切换能力:(a)不同 Icc 条件下,(b)不同氧空位条件下以及 (c) 不同紫外光强。

图9 Ga2O3 RRAM 的不同潜在电阻随机存取机制。

图10 (a) 焦耳热主导的冷裂纹形成与断裂过程。(b) 金属冷裂纹的形成与断裂过程。(c) 富氧空位电阻层中空位冷裂纹的形成与断裂过程。
DOI:
doi.org/10.1002/admt.202502218

























