【器件论文】采用 Ga₂O₃ 肖特基二极管探测器评估不同密度天然木质薄膜的软 X 射线屏蔽特性

        由韩国航空大学的研究团队在学术期刊 Applied Physics Letters 发布了一篇名为 Soft x-ray shielding characteristics of natural wood films with varying densities evaluated using a Ga₂O₃ Schottky diode detector（采用 Ga₂O₃ 肖特基二极管探测器评估不同密度天然木质薄膜的软 X 射线屏蔽特性）的文章。

摘要

        本研究采用基于 Ga₂O₃ 的肖特基势垒二极管探测器，评估了不同密度的天然木质薄膜的 X 射线屏蔽效能。通过数据库建模的衰减数据与连续软 X 射线照射下的实验结果，系统性地将作为屏蔽性能指标的光电流抑制与木材密度建立关联。结果表明，高密度木材样本在 1–20 keV 软 X 射线范围内展现出显著增强的屏蔽效率，其性能接近轻质金属与聚合物材料。温度依赖性测量进一步揭示，木材薄膜的屏蔽性能随温度升高而下降，这可能是由于材料的热降解所致。尽管如此，高密度木材薄膜在高达 423 K 的温度下仍能保持超过 85 % 的屏蔽效率，凸显其作为航空航天和高海拔应用中轻质、环保且耐热的二次屏蔽材料的潜力。

原文链接：

https://doi.org/10.1063/5.0304649