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【会员论文】PRB丨中国科学院半导体研究所、深圳大学、国防科技大学团队:硫掺杂 Ga₂O₃中的价带上移与受体行为

日期:2026-04-30阅读:15

        由中国科学院半导体研究所、深圳大学、国防科技大学的研究团队在学术期刊 Physical Review B 发布了一篇名为 Valence band elevation and acceptor behavior in sulfur-alloyed Ga₂O₃(硫掺杂 Ga₂O₃中的价带上移与受体行为)的文章。

 

背   景

        宽禁带半导体凭借高击穿场强、强抗辐射性等优异性能,在极端环境传感器、高功率晶体管、日盲光电探测器等电子与光电子领域应用前景广阔,其中 α-Ga₂O₃ 因具有最大禁带宽度,在高功率电子器件中极具吸引力。但与 ZnO、SnO₂ 等常见宽禁带金属氧化物类似,Ga₂O₃ 的价带顶位置低且局域化程度高,以 O 2p 轨道为主导,难以实现高效 p 型掺杂,这是制约其应用的核心难题。尽管阳离子合金化已被证实可调控 Ga₂O₃ 电子结构,硫属元素阴离子合金化有望抬高价带顶以促进 p 型掺杂,但 α-Ga₂(SₓO₁₋ₓ)₃ 合金中详细的受体行为,尤其是哪些受体杂质在合金中更具优势,仍缺乏清晰认知。

 

主要内容

        高效 p 型掺杂在宽禁带氧化物中受限于其低能且局域化的价带顶。通过合金化抬高价带顶是克服该局限的有效途径。尽管半导体合金的电子结构调控已被广泛研究,但体系中的缺陷行为仍不明确。本文采用第一性原理计算,研究了稀溶 α-Ga₂(SₓO₁₋ₓ)₃ 阴离子合金的电子结构与受体行为。结果表明,硫掺杂可显著抬升 Ga₂O₃ 的价带顶,为 p 型掺杂创造有利条件。在 8 种候选受体杂质中,BeGa、MgGa、CaGa、SrGa、ZnGa 和 CdGa 在合金中仍为深能级受体,而 α-Ga₂O₃ 中原本极深的 AgGa 与 CuGa 能级在合金化后显著变浅。电荷密度分析显示,前六种缺陷形成与价带顶强耦合的空穴极化子态,而 AgGa 和 CuGa 与价带顶解耦合。

 

创新点

        •采用第一性原理计算研究稀溶 α‑Ga₂(SₓO₁₋ₓ)₃ 阴离子合金的电子结构与受体行为。

        •硫掺杂可显著抬升 Ga₂O₃的价带顶,为 p 型掺杂创造有利条件。

        •BeGa、MgGa、CaGa、SrGa、ZnGa 和 CdGa 在合金中仍为深能级受体,AgGa 和 CuGa 则显著变浅。

        •前六种缺陷形成与价带顶强耦合的空穴极化子态,AgGa 和 CuGa 与价带顶解耦合。

 

结   论

        综上,该团队通过第一性原理计算系统研究了稀溶 Ga₂(SₓO₁₋ₓ)₃ 合金的电子结构与受体行为。结果表明,硫合金化可显著抬升 Ga₂O₃ 的价带顶,为 p 型掺杂创造有利条件。对 8 种候选受体的计算表明,BeGa、MgGa、CaGa、SrGa、ZnGa 和 CdGa 在稀溶合金中仍为深能级受体,而 α-Ga₂O₃中原本极深的 AgGa 尤其是 CuGa 能级在稀溶合金中显著变浅,使 Cu 成为有前景的 p 型掺杂剂。空穴电荷密度分析显示,前六种受体的空穴态与价带顶强耦合并形成空穴极化子态,而 AgGa 和 CuGa 缺陷态与价带顶解耦合。该研究为 Ga₂O₃ 及相关宽禁带合金的 p 型掺杂提供了理论指导。

 

项目支持

        本研究得到国家自然科学基金(项目编号:62425406、12474073、12504286、12504290)、国家重点研发计划(项目编号:2024YFA1409700)、中国科学院战略性先导科技专项(项目编号:XDB0460000)、中国科学院基础研究青年科学家项目(项目编号:YSBR-026)、广东省基础与应用基础研究基金(项目编号:2025A1515011292)以及国防科技大学创新研究基金的资助。

图 1. (a) 刚玉相 Ga₂O₃ 与单斜相 Ga₂S₃ 的传统单胞,其中红色、黄色和绿色球分别代表 O、S 和 Ga 原子。(b) Ga₂(SₓO₁₋ₓ)₃ 合金的形成能随硫组分的变化,绿色方块代表刚玉结构(α),红色圆圈代表单斜结构(α′)。

图 2. (a) Ga₂(SₓO₁₋ₓ)₃ 合金的带隙,(b) 带边位置,以及 (c) 导带底和 (d) 价带顶对应的原子轨道贡献随硫组分 x 的变化。

图 3. (a) Ga₂O₃ 与 Ga₂(SₓO₁₋ₓ)₃ 合金(x = 0.125)中不同替代掺杂剂的热力学跃迁能级(0/1−),以各自价带顶为参考。两个体系之间的价带偏移(VBOs)和导带偏移(CBOs)也在图中标出。(b) 不同替代掺杂剂在纯 Ga₂O₃ 和 Ga₂(SₓO₁₋ₓ)₃ 合金(x = 0.125)中对应的电离能。彩色柱代表合金中不同掺杂剂的电离能,灰色柱代表 Ga₂O₃ 中的对应值。

图 4. Ga₂O₃(a)–(c)与 Ga₂(SₓO₁₋ₓ)₃(d)–(f)中 Be⁰Ga、Zn⁰Ga 和 Cu⁰Ga 缺陷态的波函数平方。

DOI:

doi.org/10.1103/vswj-bqgd