【会员论文】西电郝跃院士、张进成教授团队构建KMC模型揭示(010) β-Ga₂O₃ MOCVD外延生长动力学机制
日期:2026-07-13阅读:137
由西安电子科技大学郝跃院士、张进成教授、冯倩教授等人的研究团队在学术期刊 Vacuum 发布了一篇名为 Kinetic Monte Carlo Simulation of (010) β-Ga₂O₃ Growth via Metalorganic Chemical Vapor Deposition(通过金属有机化学气相沉积法生长(010) β-Ga₂O₃ 的动力学蒙特卡洛模拟)的文章。
背 景
β-Ga₂O₃ 是超宽禁带半导体材料,禁带宽度高达 4.8 eV,击穿电场强度约 8 MV/cm,在功率电子器件、深紫外光电器件领域拥有广阔应用前景。该材料为单斜晶系晶体(空间群 C2/m),常用外延晶面包含 (100)、(010)、(001) 三类。其中 (010) 晶面是 β-Ga₂O₃ 热力学最稳定的解理面,但晶体结构存在极强各向异性,衬底表面吸附原子的扩散行为沿不同晶向差异巨大,采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)进行同质外延生长时极易出现表面粗糙度过高的问题,很难制备原子级平整的外延薄膜,严重制约了基于该晶面的高性能器件开发。
MOCVD 是 β-Ga₂O₃ 同质外延的主流制备工艺,具备多片大尺寸同步生长、薄膜组分与晶体结构易调控、掺杂精度高、高温稳定性优异等突出优势。目前国内外针对 (100)、(001) 晶面 β-Ga₂O₃ 衬底的同质外延研究已取得大量成果,在偏角 (100) 衬底上可实现稳定台阶流生长模式;但 (010) 取向 β-Ga₂O₃ 的 MOCVD 生长动力学机理更为复杂,相关原子尺度仿真研究十分匮乏。
动力学蒙特卡洛(KMC)仿真能够打通微观原子演化过程与宏观薄膜形貌之间的研究壁垒,现已广泛应用于各类化学气相沉积生长过程的模拟与验证。但现有针对 β-Ga₂O₃ 的 KMC 模型大多简化反应腔内复杂的气相化学反应,忽略气相反应与表面沉积过程的耦合效应,仅能半定量复现实验现象,在宽范围温度、压力工艺条件下定量预测误差较大,无法完整还原 (010) β-Ga₂O₃ MOCVD 全流程原子演化规律。
基于上述研究空白,本文构建耦合气相前驱体反应与表面吸附-扩散-成核过程的三维原子尺度 KMC 模型,系统解析生长温度、反应压力对薄膜生长动力学、表面形貌、晶体质量的调控机制,为高品质 (010) 取向 β-Ga₂O₃ 外延薄膜的工艺开发提供完善理论依据。
主要内容
同质外延生长 (010)-取向 β-Ga₂O₃ 金属有机化学气相沉积(MOCVD)工艺面临复杂表面动力学带来的巨大挑战。本文构建三维原子尺度动力学蒙特卡洛(KMC)模型,首次耦合三乙基镓(TEGa)-O₂ 气相反应与表面 Ga/O 原子吸附-扩散-成核过程,仿真 (010) β-Ga₂O₃ 同质外延生长动力学。结果显示生长过程分为三阶段路径:孤立岛形成-岛合并-台阶流动动态平衡。系统性研究表明温度(750–900 ℃)与压力(15–60 Torr)通过前驱体输运与表面反应调控生长速率,表面粗糙度随温度呈非单调变化规律。多目标优化确定最优工艺窗口中心条件为 (800 ℃, 25 Torr),该条件下薄膜综合性能均衡:生长速率约 1.90 μm/h、均方根表面粗糙度(RMS)约 0.92 nm、有序原子占比约 0.67。本研究阐明原子尺度动力学机理,为高品质外延薄膜制备提供可靠理论指导。
创新点
首次建立耦合 TEGa-O₂ 完整气相基元反应与表面吸附扩散过程的三维原子尺度 KMC 仿真框架,打通气相-表面耦合全流程,解决传统模型简化气相反应、定量预测精度差的缺陷;高压力(>40 Torr)条件下生长速率预测偏差由传统模型 12% 降至 3% 以内。
针对各向异性极强的 (010) β-Ga₂O₃ 晶面,完整区分 Ga、O 原子扩散差异,仅以 Ga 原子扩散作为生长控速步骤,引入各向异性扩散势垒([100] 0.60 eV、[001] 0.80 eV、台阶边势垒 1.05 eV)精准复现薄膜各向异性岛状生长形貌。
提出有序原子占比(OAR)定量评价薄膜晶体质量,结合均方根粗糙度、生长速率开展基于熵权法的多目标协同优化,确定兼顾生长效率、表面平整度与结晶质量的最优工艺窗口(800 ℃,25 Torr)。
完整揭示 (010) β-Ga₂O₃ 三阶段演化生长机理:孤立岛成核→岛合并→稳态台阶流生长,原子尺度仿真直接观测最优工艺下原子级台阶-平台平整形貌,验证台阶流生长模式。
总 结
通过构建耦合气-表面相互作用的三维动力学蒙特卡洛(KMC)模型,本研究在原子尺度系统仿真并揭示了 (010) 取向 β-Ga₂O₃ 薄膜 MOCVD 同质外延生长背后的物理机理。该模型创新性融合三乙基镓-氧气前驱体分解反应动力学与各向异性表面扩散过程,可实现从气相分解、表面吸附、迁移、成核到薄膜形貌演化全流程主导生长过程的原子尺度仿真。结果表明,(010) β-Ga₂O₃ 同质外延生长由原子扩散与台阶扩展主导,形貌演化遵循层状与三维岛状混合生长模式;温度与压力协同调控前驱体分解、原子迁移与表面反应平衡,显著影响生长动力学与薄膜质量:生长速率随温度适度上升、随压力近似线性下降;表面粗糙度随温度呈非单调变化,该现象主要源于原子扩散能力与前驱体反应效率之间的竞争关系;在中等温度、中等压力条件(800 ℃,25 Torr)下薄膜结晶质量达到近最优水平。
项目支持
本研究未获得公共、商业或非营利机构资助项目支持;仿真计算资源由超级计算网络提供。

图 1 β-Ga₂O₃ 衬底局部形貌 (a) 第一性原理优化晶胞结构 (b) β-Ga₂O₃ 衬底三维立体形貌俯视图 (c) β-Ga₂O₃ 衬底三维立体形貌 注:绿色球体代表 Ga 原子,红色球体代表 O 原子。

图 2 表面晶格模型与扩散几何示意图 (a) 仿真元胞 x-y 平面施加周期性边界条件;(b) (010) β-Ga₂O₃ 表面原子扩散方向三维示意图。

图 3 β-Ga₂O₃ (010) 表面近邻原子检索与扩散机理 (a) 三维近邻原子检索范围示意图 (b) 沿 b 轴 [010] 方向俯视图,展示 a-c 平面内平面近邻位点分布 (c) 不同扩散路径势垒高度对比:a 轴正交方向(0.6 eV)、c 轴正交方向(0.8 eV)、对角扩散(平均 0.77 eV)、向下扩散(包含台阶边势垒,1.05 eV)。

图 4 KMC-MOCVD 仿真主流程图。

图 5 40 Torr 下 (010) β-Ga₂O₃ 薄膜生长速率随生长温度变化曲线。带实心圆点实线:本文仿真结果;带方形虚线:文献 [25,31] 实验数据。误差棒代表三次独立仿真标准差。

图 6 850 ℃ 下 (010) β-Ga₂O₃ 薄膜生长速率随腔体压力变化曲线。带实心圆点实线:本文仿真结果;带方形虚线:文献 [32] 实验数据。误差棒代表三次独立仿真标准差。

图 7 40 Torr 下 (010) β-Ga₂O₃ 薄膜表面均方根粗糙度随生长温度变化曲线。带实心圆点实线:本文仿真结果;带方形虚线:文献 [31] 实验数据。误差棒代表三次独立仿真标准差。

图 8 不同腔体压力下生长温度对薄膜性能的影响及多目标综合指标等高线图。(a) 压力 15、25、40、60 Torr 下外延生长速率随温度变化规律;(b) 不同压力下有序原子占比(晶体质量评价指标)随温度变化;(c) 四种典型压力下均方根粗糙度随温度变化曲线;(d) 熵权多目标优化综合性能指标等高线图,星标代表最优工艺条件 800 ℃、25 Torr。

图 9 三维响应面揭示生长温度与腔体压力对薄膜关键性能指标的耦合作用。(a) 外延生长速率三维响应面;(b) 用于评价晶体质量的有序原子占比三维响应面;(c) 均方根表面粗糙度三维响应面;(d) 熵权多目标优化综合指标三维响应面。所有曲面均由经 MOCVD 实验验证的离散 KMC 仿真数据插值得到。

图 10 最优生长条件(800 ℃,25 Torr)下 (010) β-Ga₂O₃ 薄膜多尺度表面形貌。(a) 原子级台阶-平台结构三维透视图;(b) 沿 [001] 方向侧视图,展示台阶高度;(c) 完整仿真元胞大尺度三维表面形貌。绿色球体代表 Ga 原子,红色球体代表 O 原子。(关于图例中颜色的说明,请参阅本文网页版。)
DOI :
10.1016/j.vacuum.2026.115627











