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【国际论文】利用光浮区技术生长的纯净和掺杂锡的 β-Ga₂O₃ 单晶的光学特性

日期:2024-05-10阅读:204

        近期,由印度英迪拉·甘地原子能研究中心的研究团队在学术期刊《Journal of Crystal Growth》发布了一篇名为Optical properties of pure and Sn-doped β-Ga2O3 single crystals grown by optical float zone technique(利用光浮区技术生长的纯净和掺杂锡的β-Ga2O3 单晶的光学特性)的文章。

摘要

        利用光学浮区技术生长了非掺β-Ga2O3单晶和Sn掺杂的β-Ga2O3单晶,并对其发光和闪烁性质进行了全面研究。通过Laue衍射图案确定了生长的非掺β-Ga2O3和Sn:β-Ga2O3晶向为(100),并使用单晶X射线衍射确认了其单斜晶体结构。X射线诱导的发光光谱显示最大发射峰在365 nm处。在UV-Vis-NIR透射光谱中观察到的截止波长约为258 nm,光学带隙从中计算出为4.64 eV。记录了室温拉曼光谱,并对各种振动模式进行了研究。对经X射线辐照的晶体进行了低温(10至300 K)和高温(325至675 K)热释光(TL)测量,并计算了其TL动力学参数,如激活能(eV)和频率因子(S)。对非掺和Sn掺杂晶体在137Cs γ射线激发下进行了闪烁衰减时间剖面的测量。计算出Sn:β-Ga2O3晶体在241Am辐射源的α粒子激发下的闪烁光输出为2300 Ph/5.5 MeV。

原文链接:https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2024.127676