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【国际论文】具有超晶格背势垒层的增强模式 β-(Al₀.₁₉Ga₀.₈₁)₂O₃/Ga₂O₃高频晶体管

日期:2024-07-25阅读:173

        近期,由韩国弘益大学的研究团队在学术期刊Micro and Nanostructures发布了一篇名为Enhancement mode β-(Al0.19Ga0.81)2O3/Ga2O3 HFETs with superlattice back-barrier layer(具有超晶格背势垒层的增强模式 β-(Al0.19Ga0.81)2O3/Ga2O3高频晶体管)的文章。

摘要

        在本研究中,我们通过数值模拟研究了采用超晶格背势垒层的增强型β-(Al0.19Ga0.81)2O3/Ga2O3异质结构场效应晶体管(HFET)在最大漏电流方面的改进。利用设备模拟和建模工具,复现了近期报道的增强型β-(Al0.19Ga0.81)2O3/Ga2O3 HFET的转移特性。随后揭示了所提议器件的转移特性、输出特性、射频(RF)特性和关态击穿特性。由于采用了超晶格背势垒层,对于栅极长度(LG)为195nm和栅极到漏极间距(LGD)为190nm的器件,计算的关态击穿电压从26V显著提升到93V,这是亚微米β-氧化镓(β-Ga2O3)晶体管中报道的最高击穿电压之一。此外,插入超晶格背势垒层改善了亚阈值特性,导致阈值电压正向偏移。结果表明,采用超晶格背势垒层可以显著增强高度缩小的β-Ga2O3 HFET的关态电流特性和RF特性。

原文链接:https://doi.org/10.1016/j.micrna.2024.207802