
【国际论文】对硅 (100) 上缺氧 β-Ga₂O₃ 薄膜中丰富的电子供体位点和非重叠小极子隧道电导
日期:2024-08-23阅读:177
近期由美国德克萨斯州立大学的研究团队在学术期刊Applied Physics A发布了一篇名为Enriched electron donor sites and non-overlapping small polaron tunneling electrical conduction in oxygen-deficient β-Ga2O3 thin film on p-Si (100)(对硅 (100) 上缺氧 β-Ga2O3 薄膜中丰富的电子供体位点和非重叠小极子隧道电导)的文章。
摘 要
本文采用脉冲激光沉积(PLD)法在重掺杂p型Si衬底上生长了单斜β-Ga2O3薄膜,生长温度为700°C,氧分压为1×10-2托,以确定其在不同升高温度下的交流电行为,以期应用于恶劣环境。X射线衍射(XRD)和X射线光电子能谱(XPS)揭示了随机取向的多晶单斜β-Ga2O3相,所有可能的Ga和O化学态都存在。通过阻抗分析仪在100 Hz–1 MHz频域和25至400°C温度范围内测试了β-Ga2O3/Si (100)异质结构的电特性,包括阻抗、电容和电导特性。在Nyquist图(Zʹʹ vs. Zʹ)中识别出了三个不同的串联电阻–电容(RC)电路,对应于β-Ga2O3薄膜、Si衬底和界面势垒效应,它们的贡献随温度逐渐补偿。实部电介电常数(εr')随着温度从约5.35(25°C)增加到约293.8(400°C),并表现出基于Koop’s现象论的Maxwell–Wagner型电极化。由于温度依赖的弛豫过程,Cole–Cole图的半径和贡献随着温度的升高而减小。氧空位在β-Ga2O3中诱导了增强的电子供体位点,β-Ga2O3和Si的交流电导的激活能(Ea)分别估计为约0.87 eV和0.07 eV。频率指数n1和n2随温度的变化揭示了两种不同的导电机制:(i)Si (100)衬底的量子机械模型(QMT),以及(ii)β-Ga2O3 的非重叠小极化子隧道导电模型。
DOI:https://doi.org/10.1007/s00339-024-07656-8