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【国内论文】西安邮电大学研究团队基于 Ga₂O₃ 的 10 × 10 日盲紫外线探测器阵列和成像特性的研究

日期:2024-08-30阅读:177

        近日,由西安邮电大学的研究团队在学术期刊Journal of Semiconductors发布了一篇名为10 × 10 Ga₂O₃-based solar-blind UV detector array and imaging characteristic(基于Ga₂O₃ 的 10 × 10 日盲紫外线探测器阵列和成像特性)的文章。

摘要

        基于原子层沉积生长的Ga2O3薄膜,制备了具有双层线结构的10×10日盲紫外(UV)成像阵列。阵列中的单个检测单元在3 V电压下表现出优异的性能:光暗电流比(PDCR)为5.5 × 105,响应度(R)为4.28 A/W,外量子效率(EQE)为2.1 × 10%,探测率(D*)为1.5 × 1014 Jones,并且具有快速响应时间。光电探测器阵列在不同光强和低工作偏压下表现出高均匀性。该阵列还具有良好的温度稳定性。在300 °C下,仍能呈现清晰的成像,并在5 V和1 V电压下分别保持高响应度为34.4和6.45 A/W。这项工作为大规模Ga2O3日盲紫外探测器阵列提供了新的见解。

图 1. 10 × 10 β-Ga2O3日盲紫外探测器阵列制备流程图。

图 2.(a)退火后 Ga2O3 的 XRD 图。(b) 蓝宝石衬底上生长的 β-Ga2O3 薄膜的紫外可见吸收光谱。插图显示了薄膜的 Eg。(c) 所制备阵列的真实图像和局部放大图。

DOI:doi.org/10.1088/1674-4926/24030005